超声波检漏仪使用压力变化检漏仪对元器件作粗检漏

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超声波检漏仪使用压力变化检漏仪对元器件作粗检漏

*近几年，国内外应用了一种新的元器件粗检漏方法，超声波检漏仪就是压力变化检漏。这种方法不使用氟油、不加热，检漏速度快，精密也可以满足要求。压力变化检漏是通过测量被检件内腔压力随时间降低或升高，来检测被检件漏率大小的检漏方法。过去由于检测压力变化的仪表精度不高，所以应用范围有限。近些年来，超声波检漏仪各种新型压力测量仪表的精度越来越高，应用范围也越来越广。利用薄膜差压传感器制造的一种检漏仪已经成功地应用于元器件的粗检漏，一般手动检测时单个器件检测时间在10s左右，在使用多工位全自动检测设备时检测一个元器件的平均时间*小仅为1s，对于不同外形尺寸的元器件，可以快捷地更换检漏卡具，一台检漏仪同时可设置8组不同的检测参数，超声波检漏仪可以方便地实现切换。检测不用氟油，不用加热，检测完毕不用清洗，效果很好。
差压式检漏仪是通过测量被检件与基准物内腔的压力差再经计算而得到总漏率的。超声波检漏仪在工作时，一端连载被检件上，另一端连在基准物上，可被检件充压的同时也对基准物充压，充压结束时两端压力完全一样，经过一段时间后，有漏的被检件与不漏的基准物之间就产生了压力差，由此检漏仪可以按获取的差压值及各种检漏参数进行运算，得出被检件的总漏率。超声波检漏仪由于它采用测量压力差的检测方式，检测精度与被检件的充压压力无关，所以能获得较高的检测精度。另外，采用基准物作对比检测，可以克服环境温度和其他多种干扰因素对检测结果的影响，检测误差也就更小了。

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